Medición de la Resistencia Eléctrica y Transmitancia Óptica con Control de Temperatura

1. Diseñar, desarrollar e implementar un sistema automatizado de recolección de datos de la Resistencia Eléctrica y Transmitancia Óptica en Función de la Temperatura para la caracterización de películas delgadas. 2. Realizar la caracterización eléctrica y óptica de películas delgadas de dióxido de vanadio con control de la temperatura.

En este trabajo, se diseña, construye e implementa un sistema de medición de resistencia eléctrica y transmitancia óptica en muestras de dióxido de vanadio (principalmente) depositadas en colaboración con la Universidad Federal de Santa Maria (Brasil) sobre substratos de silicio y vidrio. Debido al interés científico por sus aplicaciones en ahorro energético surge el interés de estudiar el comportamiento de este material especificamente la necesidad de realizar las mediciones de resistencia eléctrica y transmitancia óptica, con una temperatura controlada. Se realizan ciclos de calentamiento y enfriamiento entre 0 y 120 °C. Por lo tanto, el sistema de medición automatizado cuenta con un control de temperatura que implementa células de Efecto Peltier como actuador, con un control tipo PID, utilizando en conjunto un sensor PT100 como señal de retroalimentación. Además se pretende utilizar como procesador e interface de operación del sistema, el software LabView. El nuevo sistema es una versión optimizada de uno preliminar utilizado en el desarrollo del proyecto de Ventanas Inteligentes.

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